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作 者 ：张海英;张海霞;张峰;毛爱军;许勇;王永健;于广建;

期 刊 ：生物技术通报 2006年 0卷 S1期 页码：320-322

关键词：植黄瓜；枯萎病；抗性基因；AFLP；

摘 要 ：黄瓜枯萎病是危害我国黄瓜的主要病害。本实验以黄瓜抗枯萎病亲本WIS2757和感枯萎病亲本津研2号及其F2代分离群体为试材,采用分离群体分组分析法(BSA)进行了与黄瓜抗枯萎病基因连锁的分子标记研究。AFLP分析表明:引物对P15M5扩增出的特异DNA片段P15M5-310与WIS2757黄瓜枯萎病抗性基因连锁,遗传距离为7cM。

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